MiniTest 420/430/440超聲波壁厚測(cè)厚儀
更新時(shí)間:2024-09-12
MiniTest 420/430/440超聲波壁厚測(cè)厚儀介紹:高阻抗雙晶探頭脈沖-回波方式 量程達(dá)0.65-500mm回波-回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度
品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 5千-1萬(wàn) |
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MiniTest 420/430/440超聲波壁厚測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn):
高精準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖-回波方式 量程達(dá)0.65-500mm
回波-回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm
堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機(jī)械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門的產(chǎn)品檢驗(yàn)。
MiniTest 400系列是德國(guó)EPK公司推出的型超聲波測(cè)厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便,速度快, 性高等特點(diǎn)。
MiniTest 420/430/440超聲波壁厚測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 | 參數(shù) | 420 | 430 | 440 | |
零位校準(zhǔn) | 開機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn) |
| ● | ● | |
測(cè)量參數(shù) | 發(fā)射-回波模式,量程0.65-500mm | 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量:滿足常用的檢測(cè)要求 | ● | ● | ● |
zui小值測(cè)量:滿足曲面或需要選擇zui小值的測(cè)量環(huán)境 | ● | ● | ● | ||
差分測(cè)量:顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值 |
| ● | ● | ||
平均測(cè)量:提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值 |
| ● | ● | ||
上下限測(cè)量:極限報(bào)警 |
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回波-回波模式,量程3-25mm | 透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度 |
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| ● | |
快速掃查模式 | 適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境,每秒10次的測(cè)量,可以同時(shí)顯示測(cè)量中的zui大值和zui小值 |
| ● | ● | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 10組5000個(gè)數(shù)據(jù),動(dòng)態(tài)分配 |
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數(shù)據(jù)輸出 | USB接口,通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī) |
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顯示信息 | 測(cè)量值,聲速值,探頭型號(hào),電池電量,當(dāng)前數(shù)據(jù)組 | ||||
示值精度 | 小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm | ||||
單位 | 公制/英制 | ||||
聲速范圍 | 1000m/s - 9999m/s, | ||||
精度 | 0.65mm-9.99mm ±0.04mm 10.00mm-99.99mm ±(0.1%H+0.04)mm 100.0mm-500.0mm ±0.3%H | ||||
增益 | 自動(dòng);手動(dòng)可調(diào) | ||||
聲速測(cè)量 | 確定未知聲速材料的聲速,預(yù)置9種常用材料聲速值 | ||||
探頭識(shí)別 | 自動(dòng)識(shí)別探頭 | ||||
關(guān)機(jī)選擇 | 可選擇2分鐘,5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī) | ||||
外形尺寸 | 130 × 73 × 24 mm(L×W×H) | ||||
重量 | 約190g | ||||
工作溫度 | -20至50攝氏度 | ||||
電池 | 兩節(jié)5號(hào)電池,電量顯示,電量不足報(bào)警 | ||||
工作時(shí)間 | 不間斷測(cè)量不少于80小時(shí) | ||||
顯示屏 | 128×64 背光 |
標(biāo)準(zhǔn)配置 可選配置
儀器主機(jī) 階梯試塊,通訊電纜,通訊軟件,高溫探頭等,詳情請(qǐng)咨詢當(dāng)?shù)亟?jīng)
帶連接電纜的探頭一支 銷商。
耦合劑(75ml)
2節(jié)5號(hào)電池
塑料手提箱
中英文說(shuō)明書
可選探頭:
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀特點(diǎn):
1.無(wú)損測(cè)量金屬、塑料、玻璃等材料的厚度,測(cè)量快速。
2. 堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
3. 適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀的應(yīng)用:
1.MINITEST 403/405系列 超聲波測(cè)厚儀,用于測(cè)量鋼鐵和其它金屬、玻璃、陶瓷、均質(zhì)塑料等材料的壁厚。MINITEST 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀小巧、堅(jiān)固耐用。測(cè)量無(wú)損、快速、準(zhǔn)確。可以測(cè)量平面和曲面;
2.MINITEST 403/405系列 超聲波測(cè)厚儀廣泛適用于煉油廠、化工廠及鋼鐵工業(yè),測(cè)量油罐、輸油管的壁厚;
3. MINITEST 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀連續(xù)模式每秒讀數(shù)17個(gè);
4. MINITEST 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀有zui小值存儲(chǔ)功能;
6. MINITEST 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀有連續(xù)模式可探測(cè)微小的腐蝕坑,點(diǎn)。
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
測(cè)量原理 超聲波反射脈沖
零點(diǎn)調(diào)整 用內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量范圍 0.63 ~ 500mm
分 辯率 0.01mm
聲速范圍 1000 ~ 9990 m/s (分辯率 1m/s)
顯 示 4位 LCD、自動(dòng)背景光
容 差 1% x 厚度值 ± 0.05mm
環(huán)境溫度 -10℃ ~ 60℃
外 殼 防靜電材料
體 積 112 × 56 × 23 mm
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀功能:
Minitest 405zui多可存儲(chǔ)1000個(gè)讀數(shù),可存10組,每組zui多100個(gè)連續(xù)模式可檢測(cè)北側(cè)樣品的腐蝕坑、點(diǎn)。當(dāng)讀值超出事先設(shè)的上下*有聲,光兩種報(bào)警方式數(shù)據(jù)接口可傳輸讀值和統(tǒng)計(jì)值。
Minitest 403連續(xù)模式可檢測(cè)被側(cè)樣品的腐蝕坑、點(diǎn) 。
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置:
1.儀器主機(jī)
2.帶連接電纜的探頭一支
3.耦合劑(100ml)
4.2節(jié)七號(hào)電池
6.塑料手提箱
7.說(shuō)明書、保修卡
MiniTest 403/405系列超聲波壁厚測(cè)厚儀可選配置:
小管徑探頭,鑄鐵探頭,高溫探頭等
型號(hào) | 晶體直徑 | 頻率 | 測(cè)量范圍 | 工作溫度 | 簡(jiǎn)介 |
U5.0E | 8MM | 5.0MHZ | 3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E) | -12-+60℃ | 440標(biāo)配探頭,440*探頭,具有透過(guò)涂層測(cè)量模式。zui小測(cè)量管外徑20mm |
U10.0 | 4MM | 10.0MHZ | 0.65-20MM | -12-+60℃ | 小管徑探頭。zui小測(cè)量管外徑10mm |
U7.5 | 6MM | 7.5MHZ | 0.65-50MM | -12-+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑15mm |
U5.0 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-300MM | -12-+60℃ | 420,430標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測(cè)量管外徑20mm |
U2.0 | 12MM | 2.0MHZ | 2.0-500MM | -12-+60℃ | 粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑30mm |
U5.0HT | 13MM | 5.0MHZ | 3.0-100MM | -12-+350℃ | 高溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量, 注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S. zui小測(cè)量管外徑25mm |
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